Ein serielles Block-Face-Rasterelektronenmikroskop: Rasterelektronenmikroskope

Die EPFL beabsichtigt, ein serielles Block-Face-Rasterelektronenmikroskop anzuschaffen, das für die hochauflösende Abbildung von seriellen Dünnschnitten und die Block-Face-Rasterelektronenmikroskopie (SBF-SEM) konzipiert ist. Das System muss ein leicht abnehmbares Ultramikrotom für automatisierte Serienschnitte und Bildgebung enthalten. Das Mikroskop wird von Forschungsgruppen hauptsächlich im Bereich der Biowissenschaften eingesetzt und am Zentrum für Elektronenmikroskopie (CIME) der EPFL installiert. 

Mindestanforderungen: 

Hochauflösendes SEM mit Sekundär- und Rückstreuelektronen-Imaging 

Niedervakuum-Abbildungsmodus 

Integriertes In-situ-Ultramikrotom für automatisiertes Schneiden und Abbilden von Blockflächen 

Automatisierte Serienbildgebung und Datenerfassung für 3D-Rekonstruktion 

Fortschrittliche Ladungsminderungstechniken zur Minimierung von Bildverzerrungen bei schlecht leitenden Proben 

Benutzerfreundliche Software für die Bildausrichtung, -verarbeitung und -analyse

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