Marke NANO-SCRATCH-TESTER von CSEM,Centre Suisse d'Electronique et de,Microtechnique SA
Hinweis: Diese Eintragung stammt aus dem offiziellen Markenregister des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGE).
NANO-SCRATCH-TESTER
Auszug vom 12.04.2024
Marken Nr.
2P-409058
Gesuch Nr.
09432/1993
Hinterlegungsdatum
17.09.1993
Ablauf Schutzfrist
17.09.2023
Status Marke
gelöscht
Quelle
SHAB-Nr. 67 vom 07.04.1994
Nizza Klassifikation Nr.
9
Löschdatum
12.04.2024
Eintrag ins Markenregister
07.03.1994
Inhaber
CSEM,Centre Suisse d'Electronique et de,Microtechnique SA
1, rue Jaquet-Droz
2007 Neuchâtel CH
1, rue Jaquet-Droz
2007 Neuchâtel CH
Vertreter
P&TS Marques SA
Avenue Jean-Jacques-Rousseau 4, P.O. Box 2848
2001 Neuchâtel CH
Avenue Jean-Jacques-Rousseau 4, P.O. Box 2848
2001 Neuchâtel CH
Weitere Links:
| Markenregister-Eintrag NANO-SCRATCH-TESTER von CSEM,Centre Suisse d'Electronique et de,Microtechnique SA auf www.markenmeldungen.ch |
Teilnehmer von
