Un système de faisceau d’ions focalisés pour son centre de microscopie électronique CIME
Publikationsdatum
25.05.2023
Beschreibung
L’EPFL a l’intention d’acquérir un système de faisceau d’ions focalisés pour son centre de microscopie électronique CIME.
L’équipement sera dédié à la préparation d’échantillons / lamelles pour la microscopie électronique à transmission ainsi que pour la micro et nano-structuration d’échantillons et la caractérisation des « cross-sections » dans le domaine de la physique, de la chimie et de la science des materiaux.
En ce qui concerne les besoins de l’EPFL, l’accent sera mis sur les applications suivantes :
1.Extraction et transfert des lamelles vers les grilles TEM avec flux de travail assisté/automatisé
2.Amincissement final des lamelles avec des stratégies pour réduire l’amorphisation de surface et les effets de rideau
3.Micromanipulation d’échantillons pour le « back-side milling » et le transfert sur des de supports TEM type « chip » pour la microscopie in situ
4.Transfert des échantillons sous gaz inerte dans une boîte à gants
Kontakt
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Dr. MER Marco Cantoni
Bâtiment MXC - Station 12
1015 Lausanne
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