Rastersondenmikroskop für die Bildgebung mit atomarer Auflösung

Publikations­datum

15.08.2018

Meldungs­nummer

1033773

Art

Ausschreibungen Bau

Kanton

Eingabetermin

24.09.2018

Beschreibung

Die EPFL beabsichtigt, ein Ultrahochvakuum- (UHV) Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (SPM) für die Bildgebung mit atomarer Auflösung zu erwerben, für sein Labor “Laboratory of Advanced Separations” (LAS) der Fakultät für Grundwissenschaften (FSB). Das Gerät sollte Möglichkeiten für Rastertunnelmikroskopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM) sowie Rastertunnelspektroskopie (STS) bieten. Geplantes Einsatzgebiet des Gerätes is die schnelle, effiziente und zuverlässige Bildgebung mit atomarer Auflösung von leitenden sowie nicht-leitenden Materialien. Um den alltäglichen und zuverlässigen Betrieb zu gewährleisten sollten sowohl Hardware- als auch Softwarekomponenten des Geräts stabil sein, eine geringstmögliche Empfindlichkeit gegenüber Umgebungseinflüssen aufweisen und einen unkomplizierten Betrieb bei minimaler wartungsbedingter Ausfallzeit ermöglichen.

Kontakt

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Professor Kumar Varoon Agrawal
Rue de l'Industrie 17, Case postale 440
1950 Sion

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