Multifunktionales Rastersondenmikroskops („scanning probe microscope“ - SPM)

Publikations­datum

01.10.2020

Meldungs­nummer

1156923

Art

Ausschreibungen Bau

Kanton

Eingabetermin

10.11.2020

Beschreibung

Die EPFL beabsichtigt den Erwerb eines multifunktionales Rastersondenmikroskops („scanning probe microscope“ - SPM) für die NANOLAB. Das Rastersondenmikroskop wird für die Spitzenforschung auf dem Gebiet der Nanoelektronik und der Materialwissenschaften eingesetzt : • Topographie (kontakt sowie kontaktlos), Oberflächenanalyse • “conductive - scanning probe microscopy” (c-SPM) für Stromstärkemessungen von fA bis mA • Kelvinsondenkraftmikroskopie (KPFM) und andere elektrostatische Kraftmessmethoden • Elektromechanische Methoden einschließlich piezoelektrischer Kraftmikroskopie (PFM) • Nanolithographie mit Hilfe der Rastersonde • Betrieb unter kontrollierten Bedingungen (verschiedene Gase) • Thermische Rastermikroskopie (“scanning thermal microscopy” - STHM) zur Temperaturmessung im Nanobereich • Betrieb bei unterschiedlichen Temperaturen zur Analyse von Phasenübergängen oder Degradationstests von Nanobauteilen

Kontakt

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Professor Adrian Ionescu
Bâtiment ELB - Station 11
1015 Lausanne

Hauptseite

Ausschreibungen

Firmen-Überwachung

Firmenmonitor.ch informiert Sie über Mutationen aller Firmen, welche im Handels­register eingetragen sind. Nutzen Sie unseren Service, um sich frühzeitig zu informieren.

www.firmenmonitor.ch »

Firmenadressen kaufen

Für die Er­wei­te­rung Ihres Kun­den­kreises kön­nen Firmen­adressen individuell gekauft werden. Rund 750'000 Schweizer Firmen­adressen, selek­tierbar nach Ihren Bedürfnissen.

www.adressenshop.ch »

Neugründeradressen

Abonnieren Sie das täg­liche Up­date aller Firmen, die gerade neu ge­gründet wur­den. Lassen Sie sich täglich die neu­gegründenten Firmen­adressen als Excel-Datei liefern.

www.neugruenderadressen.ch »