Microscope à balayage de sonde pour l'imagerie à résolution atomique
Publikationsdatum
15.08.2018
Beschreibung
L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope à balayage de sonde, opérant à basse température (LT) et sous ultra-haut vide (UHV) pour l'imagerie à résolution atomique, pour son laboratoire de séparation avancée (LAS) de la Faculté des Sciences de Base. L'instrument doit offrir la possibilité d’effectuer de la microscopie à effet tunnel (STM), de la microscopie à force atomique (AFM) ainsi que de la spectroscopie à effet tunnel (STS). L'équipement sera utilisé pour effectuer quotidiennement de l’imagerie à résolution atomique de matériaux conducteurs et non conducteurs de manière efficace fiable et rapide. Par conséquent, les composants matériels et logiciels de l’équipement doivent être stables, peu sensibles aux conditions environnementales et permettre une utilisation facile avec un temps d’arrêt minimal pour la maintenance.
Kontakt
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Professor Kumar Varoon Agrawal
Rue de l'Industrie 17, Case postale 440
1950 Sion
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