Hochauflösendes, Cs-korrigiertes und in-situ-fähiges Transmissionselektronenmikroskop mit Sonde

Publikations­datum

10.10.2020

Meldungs­nummer

1158339

Art

Ausschreibungen Bau

Kanton

Eingabetermin

20.11.2020

Beschreibung

Die EPFL beabsichtigt, ein hochauflösendes, Cs-korrigiertes und in-situ-fähiges Transmissionselektronenmikroskop mit Sonde zu erwerben, dass in Sion installiert und in die Elektronenmikroskopie-Plattform integriert werden soll. Es wird mit In situ-Haltern ausgestattet sein. Das neue Mikroskop wird dazu dienen, die Nanostruktur und chemische Zusammensetzung von Proben mit atomarer Auflösung zu untersuchen und die In-situ-Dynamik auf dem Gebiet der Materialchemie zu untersuchen. Es wird auch für fortgeschrittene Techniken wie STEM und EDX mit atomarer Auflösung sowie für andere unten aufgeführte Techniken verwendet werden. Es wird von gut ausgebildeten Mikroskopikern verwendet werden. Das Mikroskop soll Schaltmodi und hohe Spannungen ermöglichen und innerhalb eines angemessenen Zeitrahmens innerhalb der vollen Spezifikation arbeiten. Der Polschuhabstand muss die Verwendung von kundenspezifischen Probenhaltern sowie in situ-Experimente ermöglichen.

Kontakt

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Professor K. V. Agrawal
Rue de l'Industrie 17, Case postale 440
1950 Sion

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