High end focused ion beam scanning electron microscope
Publikationsdatum
13.07.2019
Meldungsnummer
1087371
Art
Ausschreibungen Bau
Kanton
Eingabetermin
22.08.2019
Beschreibung
Powerful dual beam device consisting of focused ion beam (gallium) and field emission scanning electron microscope. Applicable for wide range in sample preparation and characterization in micro- and nanoscale. (For details see Specification Documentation).
Kontakt
ETH Zürich
Dr. Nicolas Blanc
Otto-Stern-Weg 3
809 Zürich
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