Messgeräte zur Charakterisierung von RF-Halbleiterdevices: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (ausser Gläser)

Die EPFL beabsichtigt, ein aktives Load-Pull-Messsystem im Sub-THz- Bereich zu erwerben, zusammen mit einer Reihe von Frequenzextendern, die an VNA- und VMU-Messeinheiten angepasst sind, zur Charakterisierung von HF-Halbleiterbauelementen (3 Lose). Das System soll einen Frequenzbereich von etwa 75 GHz bis 260 GHz für Hochleistungsmessungen abdecken, sowie zusätzliche Low-Power-Extender, die den Bereich von 220 GHz bis 330 GHz (und darüber hinaus) abdecken, für das POWERlab des Instituts für Elektrotechnik und Mikrotechnik (IEM).

Die Ausrüstung wird der Spitzenforschung an Leistungsbauelementen im Millimeterwellen- und Sub-THz-Bereich sowie an monolithisch integrierten Mikrowellenschaltungen (MMICs) gewidmet sein. Entsprechend den wissenschaftlichen Zielen des POWERlabs liegt der Fokus auf folgenden Forschungsgebieten:

Hochfrequenz- und Hochleistungsbauelemente für Kommunikationsanwendungen der nächsten Generation;

Die Frequenzextender werden zur Charakterisierung von HF-Bauelementen im Bereich von 75–260 GHz verwendet, wobei Hochleistungsmodule für Load-Pull-Messungen eingesetzt werden. Zusätzlich werden Low-Power- Extender, die den Bereich von 220 GHz bis 330 GHz (und darüber hinaus) abdecken, an ein Keysight PNA angeschlossen.

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